| dc.contributor.author |
Saleh, H.A. |
en_US |
| dc.contributor.author |
Kraus, I. |
|
| dc.date.accessioned |
2009-11-25T13:03:27Z |
|
| dc.date.available |
2009-11-25T13:03:27Z |
|
| dc.date.issued |
2003 |
en_US |
| dc.identifier.citation |
Engineering Journal of Qatar University, 2003, Vol. 16, Pages 37-50. |
en_US |
| dc.identifier.uri |
http://hdl.handle.net/10576/7835 |
|
| dc.description.abstract |
The paper discusses the connection between macroscopic internal stresses and the technological character of technical materials. The basic theoretical relations which are used with X-Ray tensiometry of macroscopic internal stresses, and the principle of the method of one exposure, are introduced. The ability of their utilization in technology is illustrated through the examples of measuring macroscopic internal stresses of runner blades and through the determination of the yield point of steel. |
en_US |
| dc.description.abstract |
يتعرض هذ ا البحث لمناقشة العلاقة بين الاجهاد الماكروسكوبى الداخلي والخواص التكنولوجية للموالى المعدنية المستخدمة في الصناعة . حيث يقدم الأساس للعلاقات النظرية المستخدمة مع القياس التنسومترى للاجهاد الماكروسكوبي الداخلي بواسطة الأشعة السينية ، وكذلك الأساس الذي بنيت عليه طريقة التعريض اللأحادى . ويوضح البحث إمكانية استخدام هذه الطرق في التكنولوجيا خلال أمثلة من قياسات الأجهاد الماكروسمكوبي الد اخلي على الشفرات المروحية وكذلك خلال تعييت حد الأذعان للصلب . |
ar |
| dc.language.iso |
en |
en_US |
| dc.publisher |
Qatar University |
en_US |
| dc.subject |
Physics |
en_US |
| dc.subject |
الفيزياء |
ar |
| dc.title |
On Using the One-Exposure Method for Stress Measurements by X-Rays in Technology and Scientific Research |
en_US |
| dc.title.alternative |
حول استخدام طريقة التعريض الأحادى لقياس الأجهاد بوا سطة الأشعة السينية في التكنولوجيا والبحث العلم |
ar |
| dc.type |
Article |
en_US |
| dc.identifier.pagination |
37-50 |
en_US |
| dc.identifier.volume |
16 |
en_US |