On Using the One-Exposure Method for Stress Measurements by X-Rays in Technology and Scientific Research

Show simple item record

contributor.author Saleh, H.A. en_US
contributor.author Kraus, I. en_US
date.accessioned 2009-11-25T13:03:27Z en_US
date.available 2009-11-25T13:03:27Z en_US
date.issued 1982 en_US
identifier.citation Qatar University Science Bulletin, 1982, Vol. 2, No. 1, Pages 37-50. en_US
identifier.uri http://hdl.handle.net/10576/7835 en_US
description.abstract The paper discusses the connection between macroscopic internal stresses and the technological character of technical materials. The basic theoretical relations which are used with X-Ray tensiometry of macroscopic internal stresses, and the principle of the method of one exposure, are introduced. The ability of their utilization in technology is illustrated through the examples of measuring macroscopic internal stresses of runner blades and through the determination of the yield point of steel. en_US
description.abstract يتعرض هذ ا البحث لمناقشة العلاقة بين الاجهاد الماكروسكوبى الداخلي والخواص التكنولوجية للموالى المعدنية المستخدمة في الصناعة . حيث يقدم الأساس للعلاقات النظرية المستخدمة مع القياس التنسومترى للاجهاد الماكروسكوبي الداخلي بواسطة الأشعة السينية ، وكذلك الأساس الذي بنيت عليه طريقة التعريض اللأحادى . ويوضح البحث إمكانية استخدام هذه الطرق في التكنولوجيا خلال أمثلة من قياسات الأجهاد الماكروسمكوبي الد اخلي على الشفرات المروحية وكذلك خلال تعييت حد الأذعان للصلب . ar
language.iso en en_US
publisher Qatar University en_US
subject Physics en_US
subject الفيزياء ar
title On Using the One-Exposure Method for Stress Measurements by X-Rays in Technology and Scientific Research en_US
title.alternative حول استخدام طريقة التعريض الأحادى لقياس الأجهاد بوا سطة الأشعة السينية في التكنولوجيا والبحث العلم ar
type Article en_US
identifier.pagination 37-50 en_US
identifier.volume 2 en_US


Files in this item

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record