On Using the One-Exposure Method for Stress Measurements by X-Rays in Technology and Scientific Research

Show simple item record

Author Saleh, H.A. en_US
Author Kraus, I. en_US
Available date 2009-11-25T13:03:27Z en_US
Publication Date 1982 en_US
Publication Name Qatar University Science Bulletin
Citation Qatar University Science Bulletin, 1982, Vol. 2, No. 1, Pages 37-50. en_US
URI http://hdl.handle.net/10576/7835 en_US
Abstract The paper discusses the connection between macroscopic internal stresses and the technological character of technical materials. The basic theoretical relations which are used with X-Ray tensiometry of macroscopic internal stresses, and the principle of the method of one exposure, are introduced. The ability of their utilization in technology is illustrated through the examples of measuring macroscopic internal stresses of runner blades and through the determination of the yield point of steel. en_US
Language en en_US
Publisher Qatar University en_US
Subject Physics en_US
Subject الفيزياء ar
Title On Using the One-Exposure Method for Stress Measurements by X-Rays in Technology and Scientific Research en_US
Alternative Title حول استخدام طريقة التعريض الأحادى لقياس الأجهاد بوا سطة الأشعة السينية في التكنولوجيا والبحث العلم ar
Type Article en_US
Pagination 37-50 en_US
Volume Number 2 en_US
Alternative Abstract يتعرض هذا البحث لمناقشة العلاقة بين الاجهاد الماكروسكوبي الداخلي والخواص التكنولوجية للمواد المعدنية المستخدمة في الصناعة . حيث يقدم الأساس للعلاقات النظرية المستخدمة مع القياس التنسومترى للإجهاد الماكروسكوبي الداخلي بواسطة الأشعة السينية ، وكذلك الأساس الذي بنيت عليه طريقة التعريض الأحادي . ويوضح البحث إمكانية استخدام هذه الطرق في التكنولوجيا خلال أمثلة من قياسات الإجهاد الماكروسكوبي الداخلي على الشفرات المروحية وكذلك خلال تعيين حد الإذعان للصلب


Files in this item

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record