On Using the One-Exposure Method for Stress Measurements by X-Rays in Technology and Scientific Research

QSpace/Manakin Repository

On Using the One-Exposure Method for Stress Measurements by X-Rays in Technology and Scientific Research

Show full item record


Title: On Using the One-Exposure Method for Stress Measurements by X-Rays in Technology and Scientific Research
Author: Saleh, H.A.; Kraus, I.
Abstract: The paper discusses the connection between macroscopic internal stresses and the technological character of technical materials. The basic theoretical relations which are used with X-Ray tensiometry of macroscopic internal stresses, and the principle of the method of one exposure, are introduced. The ability of their utilization in technology is illustrated through the examples of measuring macroscopic internal stresses of runner blades and through the determination of the yield point of steel.يتعرض هذ ا البحث لمناقشة العلاقة بين الاجهاد الماكروسكوبى الداخلي والخواص التكنولوجية للموالى المعدنية المستخدمة في الصناعة . حيث يقدم الأساس للعلاقات النظرية المستخدمة مع القياس التنسومترى للاجهاد الماكروسكوبي الداخلي بواسطة الأشعة السينية ، وكذلك الأساس الذي بنيت عليه طريقة التعريض اللأحادى . ويوضح البحث إمكانية استخدام هذه الطرق في التكنولوجيا خلال أمثلة من قياسات الأجهاد الماكروسمكوبي الد اخلي على الشفرات المروحية وكذلك خلال تعييت حد الأذعان للصلب .
URI: http://hdl.handle.net/10576/7835
Date: 2003

Files in this item

Files Size Format View
abstract.pdf 1.806Kb PDF View/Open
abstract.doc 20Kb Microsoft Word View/Open
abstract_ar.doc 21Kb Microsoft Word View/Open
078202-0005-fulltext.pdf 376.7Kb PDF View/Open

This item appears in the following Collection(s)

Show full item record

Search QSpace


Advanced Search

Browse

My Account